鍍膜電阻測試儀HPS2523

點(diǎn)擊看大圖

如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以

產(chǎn)品名稱: 鍍膜電阻測試儀HPS2523

產(chǎn)品型號: HPS2523

產(chǎn)品展商: 海爾帕科技

產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹

鍍膜電阻測試儀HPS2523 是海爾帕科技結(jié)合行業(yè)需求，專門推出的一款針對薄膜金屬化檢測的測試儀。薄膜金屬化是生產(chǎn)金屬化有機(jī)薄膜電容器的關(guān)鍵工序。金屬層的厚度是薄膜金屬化盾量的重要參數(shù)之一。

鍍膜電阻測試儀HPS2523 的詳細(xì)介紹

鍍膜電阻測試儀HPS2523
鍍膜電阻測試儀HPS2523
鍍膜電阻測試儀HPS2523
鍍膜電阻測試儀HPS2523
鍍膜電阻測試儀HPS2523
鍍膜電阻測試儀HPS2523 鍍膜電阻測試儀HPS2523
HPS2523鍍膜電阻測試儀是海爾帕科技結(jié)合行業(yè)需求，專門推出的一款針對薄膜金屬化檢測的測試儀。薄膜金屬化是生產(chǎn)金屬化有機(jī)薄膜電容器的關(guān)鍵工序。金屬層的厚度是薄膜金屬化盾量的重要參數(shù)之一。它對金屬化薄膜電容器的電性能影響很大，不同用途的金屬化薄膜電容器對金屬層的厚度有不同的要求。而均勻金屬薄層的厚度可用單位面積所體現(xiàn)的電阻（簡稱方阻）表征。

HPS2523鍍膜真流電阻測試儀可方便地測試鍍膜的方阻（每平方厘米電阻量值）。HPS2523可用點(diǎn)測和面測兩種方式測試鍍膜的方阻，可更詳細(xì)地分析薄膜金屬化的質(zhì)量。

海爾帕科技的同仁為了更準(zhǔn)確的方阻測量，從方阻測量的基本原理著手優(yōu)化了現(xiàn)有的的面測試方式，使得HPS2523鍍膜電阻測試儀測量更精準(zhǔn)，操作更簡便。

主要技術(shù)規(guī)格：

電阻范圍：測量范圍： 0Ω－99.99Ω，

分辨率： 10mΩ（準(zhǔn) 確度(20℃±10℃)： ≤±（1%＋3個字）

方阻測量范圍：0——99.99Ω/cm²

測試電流：恒流1 mA /10mA /100 mA（自動）

測量方式：點(diǎn)測量方式和面測量方式

應(yīng)用：

測量均勻平面薄層材料每平方厘米內(nèi)的電阻量值。